- หน้าแรก
- คลังความรู้
- เซนเซอร์และทรานส์ดิวเซอร์
- 20.13 ปรับสภาพสัญญาณ · ADC
// บทที่ 20.13 · Sensors & Transducers · Signal Conditioning & ADC
การปรับสภาพสัญญาณและ ADC: จากมิลลิโวลต์ถึงตัวเลขที่เชื่อได้
เซนเซอร์ส่วนใหญ่ให้สัญญาณเล็กมาก (µV ถึง mV) หรือไม่ได้ให้แรงดันเลย (ความต้านทาน ความจุ) ภาคปรับสภาพสัญญาณทำให้มันมีขนาด รูปแบบ และความสะอาดพอที่ ADC จะแปลงเป็นตัวเลขได้ถูกต้อง หน้านี้คือ "ข้างใน" ของทรานสมิตเตอร์และการ์ดอินพุตทุกชนิด
ห่วงโซ่ปรับสภาพสัญญาณ พื้นฐาน
- กระตุ้น (excitation): เซนเซอร์แบบ passive ต้องมีแหล่งแรงดันหรือกระแสคงที่ เช่น กระแส 1 mA สำหรับ RTD แรงดัน 5–10 V สำหรับบริดจ์
- ขยายแบบผลต่าง: รับเฉพาะผลต่างระหว่างสองขา ปฏิเสธแรงดันที่ขึ้นลงพร้อมกัน (โหมดร่วม)
- กรอง: ตัดความถี่ที่ไม่ต้องการและกันรอยต่อก่อนสุ่ม
- ชดเชยและทำให้เป็นเชิงเส้น: CJC ของเทอร์โมคัปเปิล สมการ CVD ของ RTD — ทำในเชิงตัวเลขหลัง ADC
- แยกโดดเดี่ยว: ตัดเส้นทางกระแสกราวด์และป้องกันแรงดันสูงข้ามมาฝั่งระบบควบคุม
อินสทรูเมนเทชันแอมป์และ CMRR กลาง
A1 Three-op-amp instrumentation amplifier อินสทรูเมนเทชันแอมป์แบบสามออปแอมป์
A2 CMRR อัตราการปฏิเสธโหมดร่วม
บริดจ์ให้ 1 mV มีแรงดัน 50 Hz โหมดร่วม 1 V จากสายยาว
แอมป์ CMRR 100 dB: อ้างอิงที่อินพุต = 1 % ของสัญญาณ
ถ้าใช้ออปแอมป์แบบผลต่างธรรมดาที่ตัวต้านทานคลาด 1 % CMRR อาจเหลือราว 40 dB → 10 mV ใหญ่กว่าสัญญาณ 10 เท่า
สรุป: วงจรผลต่างที่ทำจากตัวต้านทานแยกชิ้นไม่พอสำหรับสัญญาณระดับมิลลิโวลต์ ต้องใช้ INA ที่ตัวต้านทานถูกตัดแต่งในชิป
การสุ่มสัญญาณ Nyquist และฟิลเตอร์กันรอยต่อ กลาง
A3 Sampling theorem and alias frequency ทฤษฎีการสุ่มและความถี่ปลอม
A4 First-order RC low-pass ฟิลเตอร์ RC อันดับหนึ่ง
สุ่มอุณหภูมิ 60 ครั้งต่อวินาที มีสัญญาณรบกวน 50 Hz ปน
A3: — สัญญาณรบกวนกลายเป็นการแกว่ง 10 Hz ที่ดูเหมือนอุณหภูมิเปลี่ยนจริง
แก้ด้วย RC : ลด 50 Hz ลงเหลือ ≈ 20 % (−14 dB) ถ้ายังไม่พอใช้ฟิลเตอร์อันดับสูงขึ้น หรือ ADC แบบ sigma-delta ที่มีร่องลด 50/60 Hz ในตัว
อีกวิธีที่ทรานสมิตเตอร์ใช้: เฉลี่ยค่าในหนึ่งรอบไฟพอดี (20 ms สำหรับ 50 Hz) ซึ่งให้ศูนย์ที่ 50 Hz และทุกฮาร์มอนิก
ทบทวนพื้นฐานการสุ่มและสเปกตรัมได้ที่ DFT และ FFT และ สัญญาณและระบบ
ADC: ความละเอียด SNR และ ENOB กลาง
A5 LSB size ขนาด 1 LSB
A6 Ideal quantisation SNR SNR ในอุดมคติ
A7 Effective number of bits จำนวนบิตที่ใช้ได้จริง
การ์ด AI 16 บิต ช่วง 10 V SINAD 88 dB วัดอุณหภูมิช่วง 0–250 °C
A5: ต่อหลัก
A7: บิต
ความละเอียดจริง (ตามจำนวนบิตจะได้ 0.0038 °C) ทั้งสองค่าเล็กกว่าความคลาดของเซนเซอร์มาก — ADC ไม่ใช่คอขวดของระบบนี้
| ADC | หลักการ | ความละเอียด · ความเร็วทั่วไป | เหมาะกับ |
|---|---|---|---|
| SAR | เทียบแบบไบนารีทีละบิต | 12–18 บิต · kS/s ถึง MS/s | วัดกระแสคอนเวอร์เตอร์ หลายช่องสลับกัน การควบคุมเร็ว |
| Sigma-delta | สุ่มเกินแล้วกรองดิจิทัล | 16–32 บิต · S/s ถึง kS/s | โหลดเซลล์ เทอร์โมคัปเปิล RTD มิเตอร์พลังงาน |
| Pipeline · Flash | หลายขั้นขนาน | 8–16 บิต · สิบ MS/s ถึง GS/s | ออสซิลโลสโคป สื่อสาร |
สัญญาณรบกวน กราวด์ ชีลด์ และการแยกโดดเดี่ยว ขั้นสูง
A8 Thermal (Johnson–Nyquist) noise สัญญาณรบกวนความร้อน
สัญญาณรบกวนความร้อนแปรตาม การจำกัดแบนด์วิดท์ให้เท่าที่จำเป็นจึงเป็นวิธีลดสัญญาณรบกวนที่ได้ผลที่สุด เซนเซอร์อุตสาหกรรมส่วนใหญ่เปลี่ยนช้า (อุณหภูมิ ระดับ) การเฉลี่ย N ค่าลดสัญญาณรบกวนสุ่มลง เท่า
- สายคู่บิดเกลียว ลดการเหนี่ยวนำจากสนามแม่เหล็ก (พื้นที่วงลูปเล็กและสลับทิศทุกเกลียว)
- ชีลด์ กันสนามไฟฟ้า ต่อกราวด์ที่ปลายด้านเดียว (มักเป็นด้านตู้ควบคุม) สำหรับสัญญาณแอนะล็อกความถี่ต่ำ เพื่อไม่ให้ชีลด์กลายเป็นเส้นทางกระแสกราวด์
- กราวด์ลูป: สองจุดกราวด์ที่ศักย์ต่างกันทำให้กระแสไหลในสายสัญญาณ แก้ด้วยการแยกโดดเดี่ยว (ออปโต แม่เหล็ก หรือความจุ) หรือ isolator สำเร็จรูปบนราง DIN
- แยกสายสัญญาณออกจากสายกำลัง และข้ามกันที่มุมฉาก สายขาออกของอินเวอร์เตอร์เป็นแหล่งสัญญาณรบกวนความถี่สูงที่แรงที่สุดในตู้
งบความคลาดเคลื่อนทั้งห่วงโซ่ ขั้นสูง
A9 Chain error budget งบความคลาดทั้งห่วงโซ่
Pt100 เกรด A ที่ 0 °C + ทรานสมิตเตอร์ + การ์ด AI + ผลอุณหภูมิตู้
สมมติ: เซนเซอร์ ±0.15 °C · ทรานสมิตเตอร์ ±0.10 °C · การ์ด AI ±0.05 °C · ผลอุณหภูมิแวดล้อม ±0.20 °C
A9:
ถ้าบวกตรงได้ 0.50 °C ซึ่งเป็นกรณีเลวสุดที่แทบไม่เกิดพร้อมกัน การปรับปรุงที่คุ้มที่สุดคือแหล่งที่ใหญ่ที่สุด (ผลอุณหภูมิ) ไม่ใช่การซื้อ ADC ที่ละเอียดขึ้น
หลักการประเมินความไม่แน่นอนแบบเต็มตาม GUM อยู่ที่ มาตรวิทยาและการสอบกลับ ส่วนสัญญาณที่ออกจากทรานสมิตเตอร์ไปยังระบบควบคุมอ่านต่อที่ 4–20 mA และ HART
แหล่งอ้างอิง
- JCGM 100:2008 (GUM) Evaluation of measurement data — Guide to the expression of uncertainty in measurement
- IEEE 1241 Standard for Terminology and Test Methods for Analog-to-Digital Converters (นิยาม SINAD และ ENOB)
- Nyquist, H. (1928) Thermal Agitation of Electric Charge in Conductors, Physical Review 32
คำถามที่พบบ่อย
ทำไมต้องมีฟิลเตอร์ก่อน ADC?
เพราะสัญญาณที่มีความถี่สูงกว่าครึ่งหนึ่งของอัตราการสุ่ม (ความถี่ Nyquist) จะปรากฏหลังสุ่มเป็นความถี่ต่ำปลอม (aliasing) และแยกออกจากสัญญาณจริงไม่ได้อีกต่อไป เช่น สัญญาณรบกวน 50 Hz ที่ถูกสุ่มด้วย 60 ครั้งต่อวินาทีจะดูเหมือนสัญญาณ 10 Hz ฟิลเตอร์กันรอยต่อต้องลดสัญญาณเหล่านี้ก่อนการสุ่ม ไม่ใช่หลังการสุ่ม
ADC 24 บิตแม่นกว่า 16 บิตจริงหรือ?
ไม่เสมอไป จำนวนบิตบอกความละเอียดของรหัส แต่ความแม่นจริงขึ้นกับสัญญาณรบกวน (ENOB หรือ noise-free bits) ความคลาดของแรงดันอ้างอิง offset gain และ drift ตามอุณหภูมิ ADC 24 บิตหลายรุ่นมีบิตที่ใช้ได้จริงประมาณ 18–21 บิตเมื่อสุ่มช้า และต่ำกว่านั้นเมื่อสุ่มเร็ว ต้องดู ENOB ที่อัตราการสุ่มที่ใช้งานจริง